同一卷膜，两个数据：GB/T 13542 系列薄膜检测的要求与测法

标准解读 · 检测方法

同一卷膜，两个数据：GB/T 13542 系列薄膜检测的要求与测法

从取样、测点到取值，看清第 1 部分与第 2 部分的配套关系

一、两份标准的分工

电气绝缘用薄膜的检测争议，多半源于一句"我测的不是这个数"。要判断谁对，得先分清两份标准各自的职责。

GB/T 13542.1—2009 管的是"要求"：定义、外观与膜卷、接头与管芯等一般要求，厚度与宽度的尺寸公差，以及检验规则和标志、包装、运输、贮存。GB/T 13542.2—2009 管的是"方法"：厚度、密度、宽度、卷绕性、表面粗糙度、摩擦系数、湿润张力、拉伸强度与断裂伸长率、撕裂性、挺度、表面与体积电阻率、介电常数与损耗因数、电气强度、电弱点、熔点、收缩率、耐热性等三十余项试验方法。

三者构成一条链：具体指标由产品标准给出，要求由第 1 部分框定，测法由第 2 部分落地。链条上任何一环说不清，讨论就会变成各说各话。

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二、厚度：一台仪器，三种读法

厚度排在试验方法的，也最容易出现分歧。

测厚仪法是基准方法。测帽用直径 2 mm 的平面或曲率半径为 25 mm~50 mm 的球面，测量压力控制在 0.5 N~1 N；仪器精度按厚度分档：小于 15 μm 不低于 0.2 μm，15 μm~100 μm 不低于 1 μm，100 μm 及以上不低于 2 μm。厚度达到 100 μm 时，才允许用千分尺测量。

叠层法用于薄型膜。取四个叠层试样，每个由 12 层组成，从离膜卷外表面约 0.5 mm 处切取；测量前去掉最外层和最内层，实际测 10 层，再除以 10 得到单层厚度，用测力 6 N~10 N 的千分尺完成。

重量法走的是另一条路：取三片约 300 mg 的长方形试样，测面积、称质量，结合本部分测得的密度反算厚度。

三种方法测的其实是三个不同的"厚度"——单点几何厚度、多层平均值、质量折算厚度。跨方法比对数据，本身就不成立。

表 1　三种厚度测量方法的对照

三、27 个点与中值：取点规则决定数据

厚度测量的取样规则很具体：沿样品宽度方向切取三条约 100 mm 宽的薄膜（膜卷宽度小于 400 mm 时可适当多取），试样不应有皱折或其他缺陷；在试样上等距离共测量 27 点，两测量点间距不少于 50 mm；未切边的膜卷，测量点离薄膜边缘 50 mm，已切边的离边缘 2 mm。

结果取 27 个测量值的中值，并报告最大值和最小值。这三条规则各有分工：中值抗异常点，最大最小值暴露局部缺陷，边缘距离则避开了切边带来的厚度突变。换句话说，标准要的不是一个漂亮的平均数，而是一个能反映整幅膜状态的数。

四、拉伸与撕裂：试样怎么取，结果怎么报

拉伸性能的规则同样细。沿纵向和横向分别取长约 200 mm、宽 15 mm±1 mm 的试样各五条，宽度测量精度不低于 0.15 mm；在试样中部标出两个相距至少 50 mm 的标记线，并在标线间测三点厚度取中值——厚度是强度计算的除数，这一步不能省。

试验时按产品标准规定的速度施加负荷直至断裂，记录最大负荷与断裂时标线间的伸长。若试样在夹口处断裂（不含标线外断裂），该数据无效，须另取试样重做。结果分别取纵、横向五个计算值的中值，拉伸强度取三位有效数字，断裂伸长率取两位有效数字。

撕裂与挺度类项目也是同一逻辑：边缘撕裂性用带斜槽的专用夹具，从加载到撕裂破坏控制在 20 s±5 s；挺度用定角柔软性测定仪，记录试条伸出平台下垂到水平面以下 41°30′ 所需的时间。方法与取值绑在一起，单看指标无法复现。

五、条件先行：状态调节与电气性能

所有项目的起点是状态调节。第 2 部分 3.2 规定了预处理条件（常见为温度 23 ℃±2 ℃、相对湿度 50%±5%），第 1 部分 6.5 又明确，使用单位验收检验的预处理按此执行。跳过这一步，后面的数据都失去可比性。

电气性能尤其敏感。电气强度要在规定的电极系统中、在空气或规定绝缘介质中施加工频电压，按连续升压或逐级升压方式测得击穿电压，再按厚度折算为电气强度；电阻率用三电极系统分别测体积与表面；介电常数与损耗因数则在规定频率下测定。电极尺寸、升压方式、介质任换其一，击穿值都不能直接横向比较。

六、结语：把"怎么测"写进验收条件

回看那些"两个数据"的争执，多半落在三个问题：用哪一版方法、取几个点、怎么取值。第 1 部分把尺寸公差和检验规则定下来，第 2 部分把每一步操作定下来，两者合起来，才构成一份可复现的验收依据。

所以，签订货技术协议时，除了写指标，还应写明方法版本、取样数量、取值方式和试验环境。标准本身已经给出了共识，剩下的只是把它写进合同。

参考标准

［1］GB/T 13542.1—2009　电气绝缘用薄膜　第 1 部分：定义和一般要求

［2］GB/T 13542.2—2009　电气绝缘用薄膜　第 2 部分：试验方法

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